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批發(fā)現(xiàn)貨JEOL 日本電子 掃描電子顯微鏡 SEM-EDX

簡要描述:JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的元素分析儀(EDS),統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制,操作員只用一只鼠標(biāo),就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。

  • 產(chǎn)品型號:JSM-6510
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-07-04
  • 訪  問  量:1818

詳細(xì)介紹

掃描電子顯微鏡 JSM-6510系列

  JSM-6510是一款高性能低價(jià)格的掃描電子顯微鏡,分辨率可達(dá)3.0nm.可按用戶要求定做的操作接口便于用戶直觀操作儀器。Smile Shot?軟件保證得到*電子光學(xué)參數(shù)。JSM-6510LGS型大樣品臺和GS型普通樣品臺可分別裝6英寸直徑和32mm直徑的樣品。

  

 掃描電子顯微鏡主要特點(diǎn)

  1.強(qiáng)大的電子光學(xué)系統(tǒng),簡單操作

  I 設(shè)計(jì)的超級圓錐型物鏡,保證3nm的分辨率。很容易得到高質(zhì)量照片。

  II 廣域掃描線圈可以得到zui低5倍的放大倍數(shù)從而提高觀察樣品的效率。

  III 優(yōu)秀的電子光學(xué)系統(tǒng)可以在大束流下形成小束斑,有利于微區(qū)分析。

  2.高分辨率

  I JSM6510系列超級圓錐形物鏡,在工作距離8mm時(shí)的分辨率為3nm,超級圓錐形物鏡

  2的外形設(shè)計(jì)可以做到短工作距離情況下樣品仍然可以大角度傾斜。

  3.全自動電子槍

  2 I JEOL開發(fā)的全自動電子槍能夠產(chǎn)生極小電子束源,只要選擇好加速電壓,就可以進(jìn)行觀察或成分分析。

  II 電子槍偏壓是調(diào)節(jié)電子槍亮度的重要部件。JEOL的無縫自給加壓系統(tǒng)能隨著電壓變化隨時(shí)調(diào)整偏壓,使得無論選擇哪個加速電壓,都能得到*亮度。

  III JEOL*的像散記憶功能能夠自動糾正隨加速電壓或工作距離改變而產(chǎn)生的像散。

  

  1KV 5KV

  

  10KV 20KV

  4.多圖顯示模式

  3 I 主顯示區(qū)可以同時(shí)顯示兩幅實(shí)時(shí)圖像,分別為二次電子像和背散射電子像,參考區(qū)也可顯示2幅實(shí)時(shí)圖像,例如二次電子圖像,背散射電子圖像或CCD相機(jī)圖像。

  II 雙實(shí)時(shí)顯示模式可以用于不同信號圖像的對比,用戶可在觀察表面形貌的同時(shí)了解樣品的成份分布情況。

  III 選用多種圖像顯示模式時(shí),點(diǎn)擊“PHOTO”按紐可同時(shí)獲得并存儲23幅全屏尺度圖像。

  5.簡單易懂的操作接口及菜單

  I 操作接口簡單,直觀,默認(rèn)的操作接口顯示了zui常用的功能按鈕,并以簡單圖文標(biāo)明,點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可操作所有功能。

  II 實(shí)時(shí)量測,圖片上的長度和角度等結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)能在顯示器上進(jìn)行測量。

  6.可變焦聚光鏡修正

  I 做表面觀察和元素分析等不同應(yīng)用時(shí),選擇合適束流非常重要,一般是通過聚光鏡與物鏡光闌來控制電子束流的。如果在調(diào)整束流過程中,焦點(diǎn)和觀察區(qū)域位移變化很小,調(diào)整起來會比較方便。JEOL*的可變焦聚光鏡可以保證這一點(diǎn)。

   

  掃描電子顯微鏡小束流中等束流大束流

  

  7.全對中樣品臺

  I 當(dāng)樣品臺傾斜時(shí),全對中樣品臺可使圖像位移和焦點(diǎn)變化zui小。使用此樣品臺可多方向觀察粗糙表面樣品,采用一些不同角度攝取的圖片組成立體圖片,可通過立體圖片觀察深度。

  8.低真空SEM

  I 低真空掃描電鏡,除了包括高真空模式外,還包括低真空模式,在低真空模式下,不導(dǎo)電樣品以及容易放氣的樣品都可以直接觀察。結(jié)合JEOL*的冷凍干燥技術(shù),可在低真空模式下快速觀察含水樣品。

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