日本電子 JEOL 掃描電鏡 SEM 鎢燈絲

日本電子 JEOL 掃描電鏡 SEM 鎢燈絲

JEOL JSM-6010 掃描電子顯微鏡/掃描電鏡 JSM-6010系列InTouchScope觸控式電子顯微鏡JSM-6010LA / JSM-6010LV是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設(shè)計(jì)的InTouchScope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對(duì)越來(lái)越多元化的操作環(huán)境需求，JSM-6010的操作設(shè)計(jì)，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。

JSM-7610F熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)改進(jìn)，實(shí)現(xiàn)了分辨率（15kV 0.8nm、1kV 1.0nm）的進(jìn)一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，能提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察、通過(guò)r-filter分選信號(hào)等滿足各種需求的高擴(kuò)展性。

JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。凝聚了日本電子50年來(lái)的SEM技術(shù)精華，外形設(shè)計(jì)緊湊。新開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型，不僅保持了InTouchScope系列*的可操作性，還擁有能與Gao端機(jī)型相媲美的可擴(kuò)展性，應(yīng)用范圍可涵蓋 以生物技術(shù)和納米技術(shù)為首的包括材料開發(fā)、測(cè)試、評(píng)估和缺陷分析及質(zhì)量控制等廣泛領(lǐng)域。